為了研究材料吸水的影響，測(cè)量了含不同缺陷(缺陷長(zhǎng)度60 m m)以及經(jīng)過(guò)不同預(yù)處理樣品的泄露電流。預(yù)處理方法包括50℃干燥、蒸餾水中水煮24h和66h，以及水煮后重新干燥(50℃)。在正常環(huán)境下進(jìn)行試驗(yàn)，無(wú)人造霧，環(huán)境溫度T=25℃±1，相對(duì)濕度RH=60％～70％。如果沒(méi)有特殊說(shuō)明，下面所得的泄露電流都是在電壓穩(wěn)定1 m in后測(cè)量的結(jié)果。
對(duì)以下進(jìn)行試驗(yàn)的樣品，當(dāng)試驗(yàn)電壓低于29kV時(shí)，所有樣品的泄露電流均低于0.2 m A(圖3)。泄漏電流結(jié)果顯示：含銅片缺陷的復(fù)合絕緣子在試驗(yàn)電壓約為9kV時(shí)出現(xiàn)了內(nèi)部局部放電。而對(duì)于含木片缺陷的樣品，同樣在試驗(yàn)電壓高于29kV時(shí)觀察到內(nèi)部局部放電現(xiàn)象的發(fā)生。
經(jīng)過(guò)水煮之后，樣品的泄露電流發(fā)生顯著變化。對(duì)于經(jīng)過(guò)24 h水煮的樣品，含木片與含區(qū)域脫粘的樣品的泄露電流值，分別在試驗(yàn)電壓為21 kV與25 kV時(shí)出現(xiàn)了明顯的上升(圖4)。而對(duì)于經(jīng)過(guò)66 h水煮的樣品，在所有樣品中均出現(xiàn)了泄露電流幅值的大幅升高(圖5)
在試驗(yàn)過(guò)程中，當(dāng)泄露電流大幅度升高時(shí)．通過(guò)紅外相機(jī)也可以觀察到復(fù)合絕緣子樣品表面溫度上升，并且在缺陷位置附近出現(xiàn)局部發(fā)熱點(diǎn)(圖6、圖7)。只有不含缺陷的完好的參照絕緣子的泄露電流與表面溫度分布沒(méi)有明顯的變化。http://www.hphzs.com
